Последние научно-технические результаты в области радиоизмерений и метрологии были представлены на XIV Всероссийской научно-технической конференции «Метрология в радиоэлектронике», прошедшей с 17 по 19 июня в г. Н. Новгород.
Нашими специалистами были представлены 2 доклада. Один из них в соавторстве со специалистами НГТУ им. Р.Е. Алексеева посвящён проблеме измерения параметров SMA-SMP переходов, микроминиатюрных SMP адаптеров и кабельных сборок. Второй доклад в соавторстве со специалистами АО «НПО «Эркон» посвящён реализации контроля параметров SMD электронных компонентов с использованием оригинального метода калибровки и измерений. Оба доклада вошли в сборник материалов конференции и открыто опубликованы.
Конференция «Метрология в радиоэлектронике» регулярно проводится Всероссийским научно-исследовательским институтом физико-технических и радиотехнических измерений (ФГУП «ВНИИФТРИ») при поддержке Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии (Росстандарт) с целью поддержания взаимодействия, сотрудничества и междисциплинарных дискуссий профессиональных сообществ метрологов и приборостроителей.