На XIII Всероссийской научно-технической конференции «МЕТРОЛОГИЯ В РАДИОЭЛЕКТРОНИКЕ» в соавторстве с представителями НГТУ им. Р.Е. Алексеева и ООО «АПКБ» был представлен доклад «Определение S-параметров SMA-SMP переходов, микроминиатюрных SMP адаптеров и кабельных сборок». По результатам работы секций конференции представители группы компаний приняли участие в круглом столе по теме «Обеспечение прослеживаемости и единства измерений параметров микроэлектронных структур на пластине в РФ».
Организаторами конференции выступили Росстандарт, ФГУП «ВНИИФТРИ», ООО «НТЦ «Навитест». Конференция проводилась 20-22 июня 2023 г. в Московской обл.